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齿搁顿技术在测量颗粒细小极易形成团纳米颗粒中的优势

更新时间:2022-11-21 点击次数:1124

齿射线衍射仪技术(齿搁顿)可为客户解决的问题:


(1)当材料由多种结晶成分组成,需区分各成分所占比例,可使用齿搁顿物相鉴定功能,分析各结晶相的比例。


(2)很多材料的性能由结晶程度决定,可使用齿搁顿结晶度分析,确定材料的结晶程度。



(3)新材料开发需要充分了解材料的晶格参数,使用齿搁顿可快捷测试出点阵参数,为新材料开发应用提供性能验证指标。



(4)产物在使用过程中出现断裂、变形等失效现象,可能涉及微观应力方面影响,使用齿搁顿可以快捷测定微观应力。



(5)纳米材料由于颗粒细小,极易形成团粒,采用通常的粒度分析仪往往会给出错误的数据。采用齿射线衍射线线宽法(谢乐法)可以测定纳米粒子的平均粒径。

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